DMM7512 双通道 7½ 位采样万用表
DMM7512 双通道 7½ 位采样万用表
DMM7512 双通道 7½ 位采样万用表

DMM7512 双通道 7½ 位采样万用表

型号: DMM7512

主要特点:

  • 两个高精度7½位数字万用表集成于1U高、全机架宽度的机箱内

  • 仪器间无需预留空间,最大限度节省机架空间

  • 配备两个1 Msample/s 18位数字化仪,可捕获波形或识别瞬态信号

  • 支持基于信号电平、上升/下降沿、窗口或数字触发来触发波形测量

  • 每个波形最多可存储2750万条带时间戳的读数

  • 一年基本直流电压精度最低可达14 ppm

  • 具备10 nV、0.1 µΩ和1 pA的灵敏度,适用于高分辨率低电平测量(如便携设备睡眠电流测量)

  • 通过偏置补偿欧姆、四线测量和干电路功能实现高精度低电阻测量

  • 自动校准功能通过最小化温度和时间漂移来提高精度与稳定性

  • 兼容USBTMC及LAN LXI接口

  • 通过嵌入式测试脚本处理器执行测试脚本,节省PC指令通信开销,从而缩短测试时间

  • 利用TSP-Link®通信实现两个数字万用表间的紧密同步

  • 两年校准周期,降低全生命周期成本

两台 DMM7510 内置在一个紧凑型机箱中

DMM7512 由两个彼此独立的相同 7½ 位 DMM7510 数字万用表 (DMM) 组成,相比 DMM7510 具有更多测量功能。两个 DMM7512 数字万用表具有与 DMM7510 相同的精度、灵敏度和速度,因此 DMM7512 可以无缝集成到以前采用 DMM7510 的测试系统中。

特点

  • 使用速度为 1M 采样/秒的 18 位数字化仪对复杂波形进行采样;存储高达 2750 万个读数

  • 以 0.1 μΩ 和 1 pA 灵敏度测试用于低功率电路中的组件

  • 使用高达 14 ppm 的 1 年期精度直流电压,通过高测试不确定度比率实现最高测试质量

  • 内置测试脚本处理器 (TSP®) 可在无需控制器交互的情况下执行测试序列,从而减少测试时间和通信开销,同时利用控制器执行其他任务

DMM7512-1.jpg


双测试系统密度

在 1U 高机架空间内使用两个 DMM,节省宝贵的机架空间。与两台 2U 高 DMM7510 相比,您可以在一半的空间内获得两倍的测量能力。

特点

  • 将源和测量与 2606B 高密度 4 通道源测量单元 (SMU) 和 DMM7512 相结合,可实现 4 通道采样和 2 通道测量功能,而占用的机架空间仅为 2U

  • 无需在 DMM7512 或 2606B 之间提供额外空间以用于热管理

DMM7512_Rack_0.png


显著缩短测试时间

每台 DMM7512 中的两个 DMM 具有内置智能,可以使用其测试脚本处理器 (TSP®) 技术在无需 PC 交互的情况下执行测试程序。此外,每个 DMM 都具有 TSP-Link® 硬件接口,因此一台仪器可以控制主从配置中的其他仪器。

特点

  • 在 TSP-Link 测试系统中最多可控制 32 台仪器

  • 以低于 500 ns 的延迟同步测量值

  • 消除仪器和 PC 之间耗时的通信

  • DMM7512 TSP 代码与 DMM7510 TSP 代码兼容

DMM7512-2.png

DMM7512 双通道 7½ 位采样万用表

型号: DMM7512

主要特点:

  • 两个高精度7½位数字万用表集成于1U高、全机架宽度的机箱内

  • 仪器间无需预留空间,最大限度节省机架空间

  • 配备两个1 Msample/s 18位数字化仪,可捕获波形或识别瞬态信号

  • 支持基于信号电平、上升/下降沿、窗口或数字触发来触发波形测量

  • 每个波形最多可存储2750万条带时间戳的读数

  • 一年基本直流电压精度最低可达14 ppm

  • 具备10 nV、0.1 µΩ和1 pA的灵敏度,适用于高分辨率低电平测量(如便携设备睡眠电流测量)

  • 通过偏置补偿欧姆、四线测量和干电路功能实现高精度低电阻测量

  • 自动校准功能通过最小化温度和时间漂移来提高精度与稳定性

  • 兼容USBTMC及LAN LXI接口

  • 通过嵌入式测试脚本处理器执行测试脚本,节省PC指令通信开销,从而缩短测试时间

  • 利用TSP-Link®通信实现两个数字万用表间的紧密同步

  • 两年校准周期,降低全生命周期成本

两台 DMM7510 内置在一个紧凑型机箱中

DMM7512 由两个彼此独立的相同 7½ 位 DMM7510 数字万用表 (DMM) 组成,相比 DMM7510 具有更多测量功能。两个 DMM7512 数字万用表具有与 DMM7510 相同的精度、灵敏度和速度,因此 DMM7512 可以无缝集成到以前采用 DMM7510 的测试系统中。

特点

  • 使用速度为 1M 采样/秒的 18 位数字化仪对复杂波形进行采样;存储高达 2750 万个读数

  • 以 0.1 μΩ 和 1 pA 灵敏度测试用于低功率电路中的组件

  • 使用高达 14 ppm 的 1 年期精度直流电压,通过高测试不确定度比率实现最高测试质量

  • 内置测试脚本处理器 (TSP®) 可在无需控制器交互的情况下执行测试序列,从而减少测试时间和通信开销,同时利用控制器执行其他任务

DMM7512-1.jpg


双测试系统密度

在 1U 高机架空间内使用两个 DMM,节省宝贵的机架空间。与两台 2U 高 DMM7510 相比,您可以在一半的空间内获得两倍的测量能力。

特点

  • 将源和测量与 2606B 高密度 4 通道源测量单元 (SMU) 和 DMM7512 相结合,可实现 4 通道采样和 2 通道测量功能,而占用的机架空间仅为 2U

  • 无需在 DMM7512 或 2606B 之间提供额外空间以用于热管理

DMM7512_Rack_0.png


显著缩短测试时间

每台 DMM7512 中的两个 DMM 具有内置智能,可以使用其测试脚本处理器 (TSP®) 技术在无需 PC 交互的情况下执行测试程序。此外,每个 DMM 都具有 TSP-Link® 硬件接口,因此一台仪器可以控制主从配置中的其他仪器。

特点

  • 在 TSP-Link 测试系统中最多可控制 32 台仪器

  • 以低于 500 ns 的延迟同步测量值

  • 消除仪器和 PC 之间耗时的通信

  • DMM7512 TSP 代码与 DMM7510 TSP 代码兼容

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电话:18676691865
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