应用：

• 功率半导体器件特性分析与测试

• Mosfet ，SIC ，GaN 单管及模块特性分析

• 功率器件的可靠性研究

• 器件来料检查与质量认证

高功率、高精度、高性价比、高灵活性

器件级静态测试系统是以业界知名品牌 Keithley 的数字源表为核心打造的晶体管专用测试设备。

相较于传统曲线跟踪仪，该设备在动态范围与准确度上实现了数量级的跨越提升，能够精准契合当今功率半导体器件对于高电压、大电流测试场景的需求，同时确保测量结果具备极高精度。

为简化测试流程，我们配备专业测试软件，助力工程师快速搭建测试系统。该软件功能全面：曲线模式可测 IV 曲线并提取参数；实时跟踪模式能快速检测击穿电压等关键参数。此外，用户能全面掌控测试源，设计出更为先进的测试方案。