完整的生产测试，无需牺牲空间

满足您的所有生产测试需求，在同一空间内有两条完全隔离的宽动态源和测量通道。 每条 40 W 通道提供 6½ 位精确分辨率源，在小于 100 µs 脉冲宽度和设定值的 0.1% 范围内，测量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。

特点

• 在同一空间内可有 2 条通道

• 最宽的电压和电流动态范围

• 高度准确的 100 µs 脉冲可扩展直流生产测试能力

嵌入式脚本提供无与伦比的生产吞吐量

满足您的所有生产测试需求，在同一空间内有两条完全隔离的宽动态源和测量通道。 每条 40 W 通道提供 6½ 位精确分辨率源，在小于 100 µs 脉冲宽度和设定值的 0.1% 范围内，测量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。

特点

• 消除与 PC 之间耗时的总线通信

• 高级数据处理和流量控制

• 通用型探头/处理程序控制

系统性能，无主机

TSP-Link® 技术支持扩展多达 64 条通道，支持高速、SMU-per-pin 并行测试（而不使用主机）。 <500 ns 时所有通道同时独立受控。

特点

• 支持 <500 ns 通道间同步

• 可达 32 条或 64 条独立 SMU 通道

• 随着测试要求变化轻松重新配置

适合生产的最佳低电流性能

2635B 和 2636B SMU 在最低 100 pA 范围内提供 0.1 fA、10-16 分辨率，减少超低电平样本检定烦恼，确保生产成功。

特点

• 在最低电流范围内稳定时间快 7 倍

• 具有市面上的最佳低电流分辨率

• 直接三芯同轴连接简化了设置