测量范围宽,高达1100 V / 1 A DC,最大功率 20 W
测量分辨率可达 10 fA
基本测量精度 0.012%,具备6½位分辨率
五英寸高分辨率电容触控屏图形界面
支持源与阱(四象限)操作
支持 SCPI 与 TSP® 脚本编程模式
TSP-Link 接口支持多通道 I-V 测试
前面板输入香蕉插座;后面板高压输入三同轴连接口
内置上下文相关帮助功能
前面板 USB 2.0 存储I/O端口,用于传输数据、测试脚本和测试配置
在 2400 系列图形化 SMU 上安装 I-V 记录器软件,在功能上替换 Tektronix 576 或 370 等传统波形记录器。无需配置扫描或连接到其他软件,即可快速探寻两端器件的特征。

5G、汽车和替代能源市场对更高效高压半导体的需求促使对 SiC 和 GaN 等新技术的测试和研究日益复杂。您的测试设备需要发展以跟上步伐。
2470 SMU 在击穿电压、泄漏电流、隔离测试、耐压和介电耐压测试等测量方面增加了多项功能,可让您更快地了解情况。

SMU 仪器可捕获更详细的设备行为,并在扩展范围内检定设备,因此您能更好地了解设备,提高其质量,改善其性能。
6½ 位精确分辨率源和测量
1 M 个样点/秒数字化测量速度
电流:10nA - 7A 直流,10A 脉冲
电压:200mV - 200V
功率:可达 100W 直流 - 1000W 脉冲

在直观、多点触控用户界面上能测量、查看和发现更多细节,从原始读数到直方图,再到基于时间和基于电压/电流的波形,并且能更快速地获得答案。

SMU 仪器将多功能性提高到一个新高度,适合现今应用和未来创新。配置精密电源、6½ 位数字万用表、电流源、电压源、皮安表、电子负载等。

源测量单元教程学习中心将关于 Keithley SMU 和其他产品的大量信息都放在一个方便的位置。 我们提供指向与我们所服务的应用和行业相关的各种内容的链接。

在 2400 系列图形化 SMU 上安装 I-V 记录器软件,在功能上替换 Tektronix 576 或 370 等传统波形记录器。无需配置扫描或连接到其他软件,即可快速探寻两端器件的特征。

5G、汽车和替代能源市场对更高效高压半导体的需求促使对 SiC 和 GaN 等新技术的测试和研究日益复杂。您的测试设备需要发展以跟上步伐。
2470 SMU 在击穿电压、泄漏电流、隔离测试、耐压和介电耐压测试等测量方面增加了多项功能,可让您更快地了解情况。

SMU 仪器可捕获更详细的设备行为,并在扩展范围内检定设备,因此您能更好地了解设备,提高其质量,改善其性能。
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1 M 个样点/秒数字化测量速度
电流:10nA - 7A 直流,10A 脉冲
电压:200mV - 200V
功率:可达 100W 直流 - 1000W 脉冲

在直观、多点触控用户界面上能测量、查看和发现更多细节,从原始读数到直方图,再到基于时间和基于电压/电流的波形,并且能更快速地获得答案。

SMU 仪器将多功能性提高到一个新高度,适合现今应用和未来创新。配置精密电源、6½ 位数字万用表、电流源、电压源、皮安表、电子负载等。

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